VOMMA光場屏幕缺陷三維檢測方案，可通過單次拍照精準(zhǔn)定位缺陷的層級信息和三維方位，從根本上防范屏幕缺陷帶來的強(qiáng)制報廢問題，幫助生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品的質(zhì)量和競爭力。

場景方案：

1. 可檢屏幕膜材類型: 偏光片、LCD、OLED、Mini LED

2. 缺陷類型: 劃痕，氣泡，毛絲，灰塵，壞點等

3. 可進(jìn)行芯片金線檢測、偏振薄膜分層檢測

4. 無需投光、單次拍照、多維顯示

5. Z軸重復(fù)精度達(dá)0.5μm

光場三維建模方案可以利用光場技術(shù)快速、準(zhǔn)確地重建三維模型，為設(shè)計、制造、科研等領(lǐng)域提供重要的參考和支持。

場景方案：科研高校實驗室

1. 面向高校光學(xué)工程、集成電路、智能制造、生物細(xì)胞學(xué)、電子工程中三維數(shù)據(jù)采集微、薄、透光學(xué)檢測;

2. 可用于立體攝影、立體顯微術(shù)、立體影像制作;

3. 可進(jìn)行芯片金線檢測、偏振薄膜分層檢測等

4. 無需投光、單次拍照、多維顯示;

5. Z軸重復(fù)精度達(dá)0.5μm。